高壓開關(guān)（在控制、保護(hù)電路中常稱為斷路器）特性測(cè)試儀是電力系統(tǒng)預(yù)防性試驗(yàn)中不可或缺的重要設(shè)備，用于檢測(cè)斷路器、隔離開關(guān)等高壓開關(guān)的機(jī)械性能和電氣性能。為了幫助電力工作者、試驗(yàn)工程師及相關(guān)采購(gòu)人員更好地理解和使用該設(shè)備，武漢龍電電氣將對(duì)高壓開關(guān)特性測(cè)試儀涉及的核心名詞與測(cè)試功能進(jìn)行系統(tǒng)性的解釋。

一、 基礎(chǔ)概念類

◆ 高壓開關(guān)/斷路器 (High Voltage Switchgear / Circuit Breaker)

解釋：本文中高壓開關(guān)與斷路器常指代同一主體設(shè)備。它是電力系統(tǒng)中最重要的控制和保護(hù)設(shè)備，能在正?；蚬收蠣顟B(tài)下（如短路）可靠地接通、承載和分?jǐn)嚯娏鳌?/p>

◆ 高壓開關(guān)特性測(cè)試儀 (High Voltage Circuit Breaker Analyzer)

解釋：一種集成了現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)和電子技術(shù)的專用儀器。它能對(duì)高壓開關(guān)的多種機(jī)械特性參數(shù)和電氣參數(shù)進(jìn)行時(shí)間同步測(cè)量，并以數(shù)據(jù)、波形、圖表等形式呈現(xiàn)，以評(píng)估開關(guān)的分合閘性能是否正常。

二、 時(shí)間參數(shù)類

◆ 合閘時(shí)間 (Closing Time)

解釋：從合閘操作線圈得電（或接收到合閘指令）的瞬間起，到開關(guān)動(dòng)觸頭與靜觸頭第一次電氣接觸（即合閘）為止所經(jīng)歷的時(shí)間。

◆ 分閘時(shí)間 (Opening Time)

解釋：從分閘操作線圈得電（或接收到分閘指令）的瞬間起，到開關(guān)動(dòng)觸頭與靜觸頭第一次分離（即分閘）為止所經(jīng)歷的時(shí)間。

◆ 合分時(shí)間 (Close-Open Time / O-CO Time)

解釋：在“合分”操作循環(huán)中，從合閘線圈得電開始，到分閘操作中動(dòng)、靜觸頭第一次分離為止的時(shí)間間隔。該參數(shù)對(duì)評(píng)估斷路器的重合閘性能至關(guān)重要。

◆ 相同期 (Phase Synchronization)

解釋：指三相開關(guān)的三極間合閘或分閘時(shí)間的最大差值。包括合閘相同期和分閘相同期。同期性差會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)沖擊電流增大，影響系統(tǒng)穩(wěn)定。

◆ 同相不同期 (Intra-phase Synchronization)

解釋：針對(duì)每相有雙斷口或多斷口的開關(guān)（如SF6斷路器），指同一相內(nèi)多個(gè)并聯(lián)斷口間分合閘時(shí)間的最大差值。

三、 行程與速度參數(shù)類

◆ 觸頭行程 (Contact Travel)

解釋：開關(guān)操作過程中，動(dòng)觸頭從分閘位置到合閘位置所走過的總位移。

◆ 接觸行程 (Contact Overtravel)

解釋：也稱超程。指開關(guān)合閘后，動(dòng)、靜觸頭已經(jīng)接觸，但機(jī)構(gòu)仍會(huì)繼續(xù)推進(jìn)一小段距離。這段距離保證了觸頭在電磨損后仍能保持可靠接觸壓力。

◆ 剛分速度 (Break Speed at Instant of Contact Separation)

解釋：動(dòng)觸頭在分閘過程中，剛分離瞬間（通常是分離后2-4ms內(nèi)）的平均速度。高速分閘能保證電弧快速熄滅。

◆ 剛合速度 (Make Speed at Instant of Contact Touch)

解釋：動(dòng)觸頭在合閘過程中，即將接觸瞬間（通常是接觸前2-4ms內(nèi)）的平均速度。足夠的剛合速度能減少預(yù)擊穿電弧對(duì)觸頭的燒蝕。

◆ 最大分閘速度 (Maximum Opening Speed)

解釋：分閘過程中動(dòng)觸頭運(yùn)動(dòng)速度的最大瞬時(shí)值。

四、 電氣與機(jī)械狀態(tài)類

◆ 線圈電流 (Coil Current)

解釋：測(cè)試儀通過電流鉗測(cè)量到的分、合閘操作線圈的電流波形。通過分析該波形，可以判斷電磁鐵芯是否卡澀、線圈是否匝間短路、輔助觸點(diǎn)是否切換及時(shí)等問題。

◆ 分/合閘線圈 (Opening/Closing Coil)

解釋：開關(guān)操作機(jī)構(gòu)中，接收電信號(hào)并產(chǎn)生電磁力以驅(qū)動(dòng)機(jī)械部件完成分閘或合閘操作的電磁線圈。

◆ 彈跳 (Bounce)

解釋：開關(guān)在合閘過程中，動(dòng)、靜觸頭接觸后因碰撞而產(chǎn)生的連續(xù)多次短時(shí)間分離和再接觸的現(xiàn)象。過大的彈跳會(huì)加劇觸頭燒蝕甚至熔焊。合閘彈跳時(shí)間是衡量彈跳嚴(yán)重程度的重要參數(shù)。

◆ 分閘反彈 (Rebound)

解釋：開關(guān)在分閘過程結(jié)束時(shí)，動(dòng)觸頭或機(jī)構(gòu)部件因撞擊緩沖器而產(chǎn)生的回彈現(xiàn)象。過大的反彈可能引起重?fù)舸?/p>

◆ 金短時(shí)間 (Golden Time / Pre-arcing Time)

解釋：在合閘操作中，從動(dòng)、靜觸頭第一次機(jī)械接觸到完全穩(wěn)定接觸不再分離的時(shí)間。此時(shí)間越短，說明合閘過程越穩(wěn)定，彈跳越小。

五、 高級(jí)測(cè)試功能類

◆ 斷口識(shí)別 (Contact Identification)

解釋：測(cè)試儀能夠自動(dòng)識(shí)別并顯示哪一相或哪一個(gè)斷口先合上或先分開，從而方便工程師進(jìn)行同期性分析和調(diào)試。

◆ 動(dòng)態(tài)電阻測(cè)試 (Dynamic Resistance Measurement, DRM)

解釋：一種通過向斷口注入直流電流，并測(cè)量其在分/合閘過程中電阻動(dòng)態(tài)變化的先進(jìn)方法。能有效檢測(cè)滅弧室內(nèi)部觸頭的燒蝕程度、觸頭行程是否到位等隱性缺陷，是評(píng)估SF6斷路器健康狀態(tài)的關(guān)鍵手段。

◆ 合閘電阻測(cè)試 (Closing Resistance Test)

解釋：用于測(cè)量某些超高壓斷路器為限制合閘操作過電壓而并聯(lián)的合閘電阻的阻值及其投入時(shí)間。該電阻通常在主觸頭合閘前先接入電路，吸收能量，之后再由主觸頭短接。

◆ 重合閘測(cè)試 (Reclosing Test)

解釋：模擬電力線路發(fā)生瞬時(shí)故障時(shí)，斷路器按預(yù)設(shè)的“分-θ-合分”時(shí)序進(jìn)行自動(dòng)重合閘的操作測(cè)試。測(cè)試儀會(huì)精確測(cè)量無電流間隔時(shí)間（θ）、合分時(shí)間等參數(shù)，驗(yàn)證保護(hù)策略的正確性。

◆ 雙端接地測(cè)試 (Test with Two-end Grounding)

解釋：針對(duì)GIS（氣體絕緣開關(guān)設(shè)備）等無法在兩端直接接線的情況，采用一種特殊的測(cè)量方法（如脈沖電流法），通過接地回路來測(cè)試斷口信號(hào)，解決了GIS現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的接線難題。

◆ 磨合試驗(yàn) (Aging Test / Burn-in Test)

解釋：對(duì)新安裝或大修后的斷路器，在投運(yùn)前進(jìn)行數(shù)十次至上百次的連續(xù)分合閘操作。目的是使機(jī)構(gòu)的運(yùn)動(dòng)部件充分磨合，去除毛刺，穩(wěn)定機(jī)械特性，并使觸頭表面形成良好的接觸面，確保投運(yùn)后的可靠性。

◆ 低電壓試驗(yàn) (Low Voltage Operation Test)

解釋：在低于額定操作電壓的條件下對(duì)開關(guān)進(jìn)行分合閘操作，以檢驗(yàn)開關(guān)機(jī)構(gòu)在電網(wǎng)電壓波動(dòng)時(shí)是否能可靠動(dòng)作。

掌握以上名詞的含義及其對(duì)應(yīng)的測(cè)試功能，是正確使用高壓開關(guān)特性測(cè)試儀、精準(zhǔn)解讀測(cè)試報(bào)告、準(zhǔn)確判斷高壓開關(guān)健康狀態(tài)的基礎(chǔ)。